超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試
在半導體集成電路國產化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，半異體行業(yè)引入了大量新材料、新工藝和新的器件結構，導致集成電路更高的缺陷密度。廣電計量提供超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試技術服務，協(xié)助客戶保證及提高產品的可靠性和質量的一致性。
分析對象
處理器、存儲器、AD/DA、接口芯片等大規(guī)模集成電路，DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LCC等各種封裝。
試驗項目：
一、超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉
通過對大規(guī)模集成電路施加持定測試向量（有效測試向量）.激勵內在缺陷和錯誤形成響應，并通過電應力和熱應力的加速，在短時間內讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，并通過測試手段予以易除，以達到提高大規(guī)模集成申路使用可靠性的目的。
技術能力
信號頻率∶100MHZ；
系統(tǒng)分區(qū)∶16區(qū)；
I/O通道數(shù)∶128路；
試驗溫度∶-10℃～+125℃
向量編程深度32M
二、超大規(guī)模集成電路測試
超大規(guī)模集成電路測試是確定或評估大規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計、監(jiān)控生產、保證·質量、分析失效以及指導應用的重裝手段。特別在集成電路生產后期和使用前期不良率驗證過程中，采用適當?shù)?#039;測試向量和全自動化的測試設備，可全面快速地識別不良產品，提高產品的交付可靠性。
技術能力
能進行動態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試；
能進行常溫測試、低溫測試、高溫測試，溫度范圍∶-55℃～+150℃（土2℃）；
信號頻率∶≥200MHz，可升級；
I/O通道數(shù)∶512路；
廣電計量檢測集成電路測試、分析能力：
可靠性驗證(RA)：
芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113；
高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103；
溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104；
溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101；
高加速應力試驗(HTSL/HAST),JESD22-A110；
高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108；
靜電測試(ESD)：
人體放電模式測試(HBM),JS001；
元器件充放電模式測試(CDM),JS002；
閂鎖測試(LU),JESD78；
TLP；Surge/EOS/EFT；
失效分析(FA)：
光學檢查(VI/OM)；
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH；
Micro-probe;
廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產業(yè)部電子602計量站，經過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構。廣電計量的資質能 |
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