植物冠層包含了葉、莖、花、果實等器官，不僅塑造了植株豐富的外觀形態，而且也間接反映了植株的生長狀況。要研究植物冠層就要考慮到冠層的葉面積、葉傾角、光能有效輻射、孔隙度等指標參數，然而太陽位置和太陽光照強度在一天之中不斷變化，另外冠層結構的復雜也給植物冠層的研究分析增加了難度。因此，研發一款分析植物冠層的儀器——冠層圖像分析儀是十分有必要的。
我們可以通過分析研究植物冠層對作物進行合理的管理調控和估產，而冠層圖像分析儀的作用就是測量葉面積指數、葉片平均傾角、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等參數。該儀器采用比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結構相關的原理，對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率，并計算出冠層結構參數，這是各類測量方法中較為精確和省力、省時、快捷便利的方法。
冠層圖像分析儀通過圖像傳感器測量測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數垂直分布圖。配置的專用分析軟件可對圖像進行分割，并只對有效圖像進行分析，使得測量的數據更加準確。在現代農業研究中，應用該儀器研究作物冠層的結構特性，已經是一項重要的課題，也是農業科學種植的重要依據。 |
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