產(chǎn)品特性：
采用單扣/雙扣式旋鈕結(jié)構(gòu)，下壓平穩(wěn)，保證IC的壓力均勻，不偏移;
  壓塊結(jié)構(gòu)合理，下壓速度線性可控,下壓力度平穩(wěn)均衡，芯片管殼受力均勻保證安全；
  精確的定位槽、導向孔,確保IC定位精確；
整體采用高性能耐高溫絕緣工程材料制作，可根據(jù)客戶要求、滿足24H/48H/72H老化測試測試電流*高可達10 A，電壓220V/380V，可滿足：濕度90%,及軍工三溫：- 45攝氏度/常溫/+150度的溫差等惡劣老化測試環(huán)境;
  探針的爪頭呈凹圓弧型,有效承托錫球，既可以保證接觸性能穩(wěn)定又能保護錫球和焊盤外形；
雙頭探針或單頭焊接式探針結(jié)構(gòu)，保證探針和PCB板接觸良好;
  探針更換方便，維修成本低;
*小可做到測試間距：
雙頭探針：Pitch=0.25mm
單頭焊接：Pitch= 0.5 mm
可根據(jù)用戶要求定做各種陣列的集成電路產(chǎn)品老化驗證測試;Socket;
交貨速度快 ，*快3天出貨！工廠直銷！品質(zhì)保證！
產(chǎn)品用途：集成電路產(chǎn)品老化驗證測試 |
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集成電路(IC)
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