V4是一款具有全面測(cè)試性能、雙面測(cè)、靈活性高的飛針測(cè)試系統(tǒng)。它為從多品種及樣品到中小批量測(cè)試以及電路板的返修和逆反工程需求的用戶zui理想的解決方案。V4立式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)包含前后各2個(gè)測(cè)針，2個(gè)附加IC腳開焊測(cè)試探頭和2個(gè)CCD攝像頭（前后各一個(gè)）。系統(tǒng)配置可使V4 真正實(shí)現(xiàn)完全的ICT測(cè)試，并可對(duì)分布在不同面的測(cè)試點(diǎn)設(shè)置隔離點(diǎn)從而對(duì)電路板進(jìn)行更全面的測(cè)試。對(duì)IC可使用非矢量測(cè)試技術(shù)進(jìn)行上電或不上電的測(cè)試。V4占地面積小，可以容易的在任何環(huán)境中使用。它立式緊湊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和優(yōu)良的夾板系統(tǒng)可以保證被測(cè)板不被抖動(dòng)以確保測(cè)針依次精確的接觸到測(cè)點(diǎn)上。
V4的測(cè)試工具和技術(shù)性能包括：
• FNODE 對(duì)被測(cè)板進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)波形分析
• 被測(cè)板加電后PWMON 網(wǎng)絡(luò)分析
• 非矢量測(cè)試（JSCAN和OPENFIX） IC腳開焊和短路測(cè)試
• 檢測(cè)PCB開路的導(dǎo)通性測(cè)試
• 模擬和數(shù)字器件在線測(cè)試
• 可選功能測(cè)試和光學(xué)檢測(cè)，對(duì)于一些文件不全或者沒有電路文件的電路板M4可以通過網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)功能重構(gòu)電路結(jié)構(gòu)圖甚至電路原理圖
• 可選熱掃描測(cè)試功能
上述所有的測(cè)試技術(shù)可以集成到一個(gè)單一的測(cè)試程序中以達(dá)到zui高的測(cè)試覆蓋率和zui大的測(cè)試能力V4可以提供一個(gè)完全圖形化的軟件系統(tǒng)（RPS模塊） 顯示測(cè)試結(jié)果以幫助用戶容易地找到并維修故障點(diǎn)，并可以存儲(chǔ)全部的測(cè)試記錄（QSTAT模塊）為用戶提供終端數(shù)據(jù)信息。使用診斷專家軟件系統(tǒng)（DES）可以讓用戶非常容易快速的完成維修工作。V4基于Seica VIP平臺(tái)，它包含創(chuàng)新的VIVA軟件，測(cè)試程序開發(fā)過程可概括為簡(jiǎn)單的三步：準(zhǔn)備、驗(yàn)證和測(cè)試。用戶通過自引導(dǎo)在直觀、一目了然的環(huán)境下進(jìn)行一系列的操作，大大減少編程時(shí)間，減少錯(cuò)誤和遺漏，保證了測(cè)試程序的質(zhì)量。針對(duì)特殊的應(yīng)用，VIP平臺(tái)開放式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)還可以非常簡(jiǎn)便的集成外部軟件和/或硬件模塊，例如RS232,USB口，GPIB和PXI/VXI協(xié)議。 |
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