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顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4

顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4//顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4

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公　司：成都頻德儀器有限公司

發(fā)布時間：2020年04月17日

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彭小林先生 (技術(shù)主管)

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詳細(xì)說明

顆粒碰撞噪聲檢測儀，顆粒碰撞噪聲測試儀，粒子碰撞噪聲檢測儀，微粒碰撞噪聲檢測儀，PIND，4511，F(xiàn)ELIX
產(chǎn)品型號：4511A（22mm臺面）4511L（50mm臺面）4511M4（100mm臺面）4511M6（150mm臺面）4511L-R及4511M4-R（寬脈沖）

美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢試驗(yàn)，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實(shí)驗(yàn)。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。

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