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phoenix X射線檢測系統(tǒng)

phoenix X射線檢測系統(tǒng)//phoenix X射線檢測系統(tǒng)

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公　司：萬高智能科技（蘇州）有限公司

發(fā)布時間：2020年08月11日

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Phoenix micromex/nanomex 180kV高分辨率微焦點/納米焦點X射線檢測系統(tǒng) 可選三維CT功能

Phoenix micromex/nanomex 高性能X射線檢測系統(tǒng)
Phoenix micromex和nanomex系列結合高分辨率二維X射線技術和CT技術于一體，性能優(yōu)異且運行定位精確高使得系統(tǒng)具有高效和可靠的特點，廣泛應用于二維和三維離線檢測要求：產(chǎn)品研發(fā)，失效分析，產(chǎn)品制造和質量控制。 phoenix x-ray x act技術提供了簡便的基于CAD文件導入的自動檢測程序，具有微米級檢測能力，特別是受益于GE高動態(tài)響應和主動冷卻特性的DXR平板探測器，有可達30fps刷新率，提供了杰出的實時清晰圖像和高速三維CT掃描性能。 DXR-HD 實時清晰成像 GE特有的高動態(tài)響應DXR平板探測器有增強閃爍體技術，開創(chuàng)了新一代的高效實時成像檢測工業(yè)標準。 1000x1000像素與30幀頻全屏刷新率和低噪點的清晰成像品質，保證快速實時成像檢測主動溫度穩(wěn)定控制系統(tǒng)保證精確可靠的檢測要求三維CT模式下的高速數(shù)據(jù)截取達到0.5/0.2微米的細節(jié)分辨率可進行高性能失效分析采用Flash!模塊處理uBGA錫球內的空洞：在1,970倍極高放大倍率下高功率下高分辨率: diamond window 相比于傳統(tǒng)的鈹窗口，micromex DXR-HD采用金剛石窗口靶材，可以有更高功率下更小的聚焦光點，保證了高輸出功率下更高的分辨率在實現(xiàn)同等影像水平下數(shù)據(jù)截取速度可快2倍高功率下高分辨率無毒靶材金剛石窗口 (相同射線參數(shù): 130 kV, 11.4 W) 鈹窗口在長期檢測時間下改善聚焦光點的穩(wěn)定性高功率下低損耗，提高靶壽命高分辨率三維CT 對于小型樣品的高級檢測和三維分析，可選phoenix特有的CT技術 180 kV高功率X射線射線管技術，與DXR數(shù)字平板探測器和金剛石窗口靶配合下具有快速影像截取，并結合phoenix快速數(shù)據(jù)重建軟件，得到高質量的檢測結果 *大體元分辨可小至2微米，nanome|x的nanoCT功能可提供更高清晰度的影像
Phoenix micromex / nanomex 優(yōu)點
高動態(tài)響應DXR平板的實時清晰圖像特有180 kV / 20 W高功率亞微米焦點或納米焦點射線管，適于高輻射吸收性材料檢測高效的自動CAD文件導入編程縮減設置時間甚至在旋轉傾斜視角下實現(xiàn)CAD信息實時匹配高缺陷檢出率和重復性操作使用簡便性細節(jié)分辨率可達0.5μm或 0.2μm 可選Flash FiltersTM影像優(yōu)化技術可選高級失效分析功能的高分辨率三維微米或納米CT 可選快速CT掃描時間可達

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