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金諾 GN401全自動ITO檢測機全自動手機外觀檢測機

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公　司：深圳市金諾智能設備有限公司

發布時間：2019年07月08日

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詳細說明

全自動ITO檢測機，備主要用于檢測TFT-CELL及Module裸露電極區域線路異常（因制程和操作不當導致的劃傷，從而引起的線路open或short等缺陷）和線路微劃傷（ITO未劃透，暫時可以通電），檢測系統需采用微分干涉成像技術或其它可以識別線路微劃傷（ITO未劃透，暫時可以通電）的成像技術，并采用先進算法判定出缺陷，主要包括自動上料，產品搬送單元、AOI檢測單元，自動下料單元等。

產品尺寸范圍 3-17寸
最小缺陷尺寸 0.002mm
搬送精度 X±0.02mm Y±0.02mm
適用產品 TFT-CELL及Module裸露電極
節拍 6-12S
電壓/功率 AC220V / 50HZ /10KVA
漏檢率 ≤1%
過檢率 ≤5%
空氣源壓力 0.5-0.7kgf/cm
潔凈度 0.5u

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