上海真晶無(wú)線超薄DR探測(cè)器是*一款 43 x 36 厘米的便攜式 X 射線平板探測(cè)器，可用來(lái)替換現(xiàn)有放射成像中應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)膠片暗盒。此探測(cè)器旨在用于移動(dòng)系統(tǒng)中，但也適合在現(xiàn)有的 14 x 17 英寸架成像系統(tǒng)中使用。4336DR 擁有 3052 x 2540 像素的有效區(qū)域。可用于透視銅管、陶瓷瓷杯、竹木制品、薄金屬、工業(yè)元器件、纖維、塑料、橡膠等介質(zhì)的檢測(cè)，電子元件半導(dǎo)體元器件,BGA,IC芯片,CPU, 電子元件電熱絲,發(fā)熱盤(pán),熱敏電阻,電容,集成電路,電路板等無(wú)損檢測(cè).檢測(cè)電子元件內(nèi)部是否變形、脫焊；空焊等,還可用于塑料汽泡等檢測(cè),
數(shù)字放射成像
產(chǎn)品手冊(cè)： 4336DR 數(shù)字放射成像（胸部）
有效區(qū)域： 43x36 厘米（17x14 英寸）
像素大小： 139 微米
有效矩陣： 3072 x 3072
填充因子： 100%
幀率： 6 - 8 秒
能量： 150 千伏 |
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無(wú)損檢測(cè)儀器
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