微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
技術(shù)參數(shù)
憑借卓越的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是測量*薄涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達(dá)6個(gè)主濾波器和8個(gè)準(zhǔn)直器，能夠處理*具挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。巨大的開槽室設(shè)計(jì)是小、大或長樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學(xué)鍍鎳應(yīng)用中的%P。
X-Strata920 可被配置為三個(gè)不同的樣品臺(tái)配置，以應(yīng)對各種不同的樣本形狀和尺寸。標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)可以快速定位小或薄部件。加深臺(tái)基座有一個(gè)可移動(dòng)托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（*大6英寸）。電動(dòng)X-Y臺(tái)可自動(dòng)分析多個(gè)樣品或一個(gè)樣品的多個(gè)位置。 |
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光學(xué)儀器
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