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激光干涉儀│手機面板攝像孔檢測干涉儀

激光干涉儀│手機面板攝像孔檢測干涉儀//激光干涉儀│手機面板攝像孔檢測干涉儀

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公　司：東莞市巨和智能科技有限公司

發布時間：2019年11月19日

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詳細說明

激光干涉儀原理和方法:
隨著光通訊行業的飛速發展，特別是通訊行業手機、平板等對成像質量要求的不斷提高，必須對手機面板攝像孔的光學玻璃的透射波前進行檢測和分析。光學玻璃的透射波前是指一個標準的波形（平面波、球面波等）被透射或反射后的波形，它主要用于光學成像的像質評價。隨著透射光學系統（如手機平板等攝像系統等）的成像質量要求越來越高，迫切需要高精度的光學玻璃透射波前的檢測手段。高精度的檢測方法主要是用干涉法檢測波前畸變。
激光干涉儀其工作原理是將待測手機平板放于干涉儀的參考平面鏡和標準反射鏡中間，從標準參考鏡反射的光和標準反射鏡的光相干涉，干涉條紋則反映了手機面板攝像孔透射波前的好壞。

技術參數
硬件部分
產品型號 SDI-635-10PV
產品名稱激光干涉儀
測試結構斐索型立式結構
測試口徑有效口徑Ф10mm
測試光源半導體激光光源（波長635nm）
對準視場 ±0.5度
標準鏡面形精度 λ/20
標準配件 1、激光干涉儀主機一臺
2、10mm平面透射標準鏡，λ/20
3、10mm平面透射反射鏡，λ/20
4、手機面板測試平臺（帶XY固定）
5、移相控制器一臺
6、移相干涉條紋分析軟件一套
7、電腦、液晶顯示器一套
設備重量約16KG
電源 AC220V50HZ
軟件部分
軟件名稱移相算法
分析項目透過波前PV值、RMS值、干涉條紋數
PV值測試重復性 ±0.039λ
條紋數測試精度 ±0.5條
測試時間 1.5秒
測試數據可存EXC

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