1.1系統介紹
XTDIC-Micro系列顯微應變測量系統，將數字圖像相關法（DIC）與雙目體式顯微鏡技術結合，通過追蹤獲取顯微鏡下材料表面變形過程的序列二維散斑圖像，解算出被測物體在各變形狀態微觀尺度的三維全場位移場和應變場，實現微小物體變形過程中物體表面的三維坐標、位移及應變的測量，廣泛的應用于生物力學、動態應變測量、高速變形測量、斷裂力學、及動態材料試驗中測量材料特性參數等。
基于雙目體式顯微鏡光路系統，在實現顯微觀察的同時，可以實現微小物體的全場應變、位移的實時測量，具有速度快、精度高、易操作等特點。系統的多功能的控制箱提供了各種A/D采集，D/A輸出及相機觸發功能，并配有高精度的四維運動位移控制裝置、顯微應變測量專用微型拉力試驗機和細微散斑制備裝置，彌補了傳統手段無法進行微小物體變形測量的不足，成為微觀尺度領域變形應變測量的一個了有力測量手段，對于微結構件的力學性能測試具有重要意義。
1.2系統基本功能
核心技術：工業近景攝影測量、數字圖像相關法；
測量結果：三維坐標、全場位移及應變；
測量幅面：支持幾毫米到幾米的測量幅面，根據需求可定制更多測量幅面；
測量相機：支持百萬至千萬像素相機，支持低速到高速相機，支持千兆網和Camera Link等多種相機接口；
測量模式：同時支持單相機二維測量和多相機三維測量；
實時測量：系統支持在線和離線兩種處理模式，在線實時測量在采集圖像的同時，可實時進行三維全場應變計算，而不是事后處理。
計算模式：具備自動計算和自定義計算兩種模式；
測量結果：全場三維坐標、位移、應變數據等動態變形數據，應變模式有工程應變、格林應變、真實應變等三種；
多個檢測工程：系統軟件支持多個檢測工程的計算、顯示及分析；
1.3 售后服務
（1） 質量保證期為12個月，質量保證期自項目安裝調試驗收合格之日起計算。
（2） 在質量保證期內提供免費上門服務及技術支持，如屬正常操作，造成某部件損壞，供方免費更換某部件；質量 保證期內出現故障導致儀器設備停用24小時以上的，可從質量保證期中扣除，部件免費更換；
（3） 在質量保證期外，如屬正常操作，某部件、零件損壞，需要更換，只收取成本費。
（4） 如遇到質量問題，24小時內給予答復，72小時內到現場進行維修服務。一般問題應在3天內、重大問題應在1周內解決或提出明確解決方案。
（5） 每年定期一次電話或登門回訪，提供永久性的技術指導與支持；
（6） 并終身免費為用戶提供軟件 |
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