1.1 系統介紹
XTOM系統基于雙目立體視覺原理，采用國際先進的外差式多頻相移技術，實現非接觸式的物體表面三維數據的細致、精確、快速獲取。與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度高、紋理細節清晰；與接觸式單點測量的三坐標相比，測量效率高、點云密度大、易于數模比對，更適合大尺寸物體、復雜曲面及柔性表面的測量；與激光掃描相比，精度高、掃描速度快且抗干擾能力強，光源對人體安全無害。系統單次測量幅面可從30×30到1000×1000 mm2，結合全局自動拼接技術，可以實現幾十米超大工件的快速高精度測量。系統廣泛適用于各種有三維數據需求的行業，如汽車工業、航空航天工業、數碼家電、文保文創及醫學等領域。
系統主要由測量頭、控制箱、標定板、標志點、計算機及檢測分析軟件等組成。
系統應用范圍包括：
逆向設計：快速獲取零部件的表面點云數據，建立三維數模，從而達到產品快速設計的目的。
產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合復雜曲面的檢測，可以檢測機械加工的復雜零部件及鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產品。
其它應用：文保文創領域的文物高精度全色彩數字化、虛擬修復及數字化展示；醫學的牙齒及畸齒矯正、醫學整容修復等。
1.2 系統特色
采用國際先進的外差式多頻相移技術及藍光掃描技術，具備更強的抗干擾能力和更高精度；
可方便的進行多種測量幅面的配置：32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等；
基于多線程的高效運算，單次掃描時間為2~4秒，點云數量為130~900萬，測量精度為0.008-0.03mm；
全自動拼接，支持標志點拼接、無標志的特征拼接及轉臺等多種拼接方式；
支持選區掃描，便于有針對性的進行高效掃描檢測、提高后期數據處理效率；
可對深孔或深槽進行檢測，支持單點探針式掃描以及單目小夾角掃描；
支持對彩色、黑色及高對比度表面的直接掃描；
在掃描得到物體三維形狀的同時，還可以掃描得到并輸出高像素的彩色紋理信息；
強大的數據后處理功能，具備點云去噪、融合、抽隙、對齊、三角化及孔洞修復等；
輔助分析工具非常豐富，具備點云測距、多種坐標變換、元素擬合、各種角度及尺寸分析功能 ；
具備多種數據輸出接口：點云（ASC，PLY，WRL），三角形網格（STL），紋理貼圖（OBJ）。
1.3應用案例
一、產品數字化
通過XTOM雙目掃描系統，對鞋底模型進行掃描，得到三維數據，數據可進行逆向設計，3D打印等
二、產品三維測量
通過XTOM掃描獲得試件的三維數據信息，通過XTOM系 |
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