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高溫阻斷試驗(yàn)臺(tái)

高溫阻斷試驗(yàn)臺(tái)//高溫阻斷試驗(yàn)臺(tái)

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公　司：西安誼邦電子科技有限公司

發(fā)布時(shí)間：2022年09月30日

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詳細(xì)說明

高溫阻斷試驗(yàn)臺(tái)
系統(tǒng)概述
交流阻斷（或反偏）耐久性試驗(yàn)是在一定溫度下，對(duì)半導(dǎo)體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規(guī)定的時(shí)間，從而對(duì)器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)和耐久性評(píng)估的一種主要試驗(yàn)方法。
一般情況下，此項(xiàng)試驗(yàn)是對(duì)器件在結(jié)溫（Tjm ℃）和規(guī)定的交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下，進(jìn)行規(guī)定時(shí)間的試驗(yàn)，并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù)，確認(rèn)是否通過，同時(shí)獲取相關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求。可供半導(dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置，作交流阻斷（或反偏）耐久性/ 篩選試驗(yàn)。能滿足IGBT進(jìn)行高溫反偏耐久性試驗(yàn)、高溫漏電流測(cè)試（HTIR）和老煉篩選。
系統(tǒng)組成
漏電流保護(hù)回路
在每一試品試驗(yàn)回路中都配置有0.1A的保險(xiǎn)絲，當(dāng)試品在試驗(yàn)期內(nèi)發(fā) 生劣化或突然擊穿或轉(zhuǎn)折，保險(xiǎn)絲將熔斷，設(shè)備面板上的相應(yīng)工位的氖燈點(diǎn)亮示警，同時(shí)蜂鳴器報(bào)警提示。
試驗(yàn)電壓保護(hù)回路
試驗(yàn)電壓由衰減板衰減取樣后反饋到控制單元，通過峰保器輸出與電壓設(shè)定值比較，當(dāng)試驗(yàn)電壓高于電壓保護(hù)設(shè)定值時(shí)，過壓報(bào)警器響，同時(shí)保護(hù)繼電器動(dòng)作切斷高壓輸出。
高壓回路
由電源開關(guān)、控制繼電器、自藕調(diào)壓器、高壓變壓器、波形變換電路組成，產(chǎn)生規(guī)定的試驗(yàn)電壓并通過組合高壓線排，接入試品工位。
電特性參數(shù)測(cè)試回路
試驗(yàn)電壓由電壓取樣回路，經(jīng)采集、保持電路送到設(shè)備的數(shù)字電壓表顯示；
試品漏電流對(duì)每一試品漏電流獨(dú)立采樣，通過設(shè)備上的波段開關(guān)分別進(jìn)行轉(zhuǎn) 換，傳送到數(shù)字電流表顯示。
技術(shù)指標(biāo)
試驗(yàn)電壓 VDRM.VRRM/VRRM 300V ~ 4000V 連續(xù)可調(diào)， 50HZ工頻
試驗(yàn)電流 IDRM.IRRM/IRRM 1.0 mA ~200.0mA
試驗(yàn)溫度室溫～150℃；溫度均勻性125℃±3℃；溫度波動(dòng)度±0.5℃
試驗(yàn)工位 10工位
試驗(yàn)容量 80×16=1280位
加電方式
器件試驗(yàn)參數(shù)從器件庫中導(dǎo)入，ATTM自動(dòng)加電試驗(yàn) 方式，可單通道操作；老化電源可根據(jù)設(shè)定試驗(yàn)電壓和上電時(shí)間程控步進(jìn)加載

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