AECQ101認證包含了離散半導體元件（如晶體管，二極管等）*低應力測試要求的定義和參考測試條件，目的是要確定一種器件在應用中能夠通過應力測試以及被認為能夠提供某種級別的品質和可靠性。
AECQ101認證要求成功完成根據本規范各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q101認證。供應商可以與客戶協商，可以在樣品量和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成所有要求時候才能認為該器件通過了AEC-Q101認證。如靜電放電,承受電壓在任何一個供應商的帶Pin元件數據表中都要注明，該要求被高度推薦.但允許供應商作出聲明，例如，“AEC-Q101 qualified to ESD H1B”，這意味著除AEC ESD外，供應商通過了所有的測試。請注意，即使合格的器件AEC也不會頒發證書.
根據本規范,離散半導體的*低溫度的范圍應為-40℃ ~ +125℃，所有LED的*小的范圍應為40℃到85℃。（注：某些器件*高溫度可能降到零）。
測試項目要求：
應力測試前后（電學測試）、預處理、目檢、參數驗證、高溫反向偏壓、高溫柵偏壓、溫度循環、無偏高加速度應力、高壓鍋、高加速度應力測試、高溫高濕反向偏壓、間歇運行壽命、功率和溫度循環、靜電放電特性、破壞性物理分析、物理尺寸 、端子強度、耐溶劑性、恒定加速度、變頻震動、機械沖擊、氣密性、耐焊接熱、可焊性、熱阻、邦線強度、邦線剪切、芯片剪片、雪崩擊穿、絕緣、短路可靠性、無鉛
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