標(biāo)題：KeyFactor晶圓探針臺(tái) I-V/C-V, RF測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)
產(chǎn)品描述：
模塊化系統(tǒng)設(shè)計(jì)，可配置多種測(cè)試測(cè)量方案。常用于基礎(chǔ)I-V／C-V測(cè)量，脈沖I-V測(cè)量，高精度I-V／C-V測(cè)量，RF、mmW（微波）測(cè)試測(cè)量。
以下為部分參數(shù)，詳細(xì)參數(shù)及方案請(qǐng)聯(lián)系：sales@keyfactorsystems.com/18925408866-許先生「鍵德測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)（東莞）有限公司」
Chuck
Diameter 2" to 6"
Material Stainless Steel
Plating N.A.
Planarity <5μm@Ambient Temperature
Measurement Accuracy (Electrical)
Part # Range Accuracy
BasicI-V 1μA rdg+10nA
COAX 1nA rdg+10pA
COAX-PIV 1nA rdg+10pA
TRIAX 10pA rdg+100fA
TRIAX-FemtoProbe 1～10pA rdg+10f |
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