一.產品技術質量
1.總體技術要求
*掃描方式：激光手持式
*掃描技術：激光線網格掃描技術
幀掃描區域：300mm×250mm
景深：250mm
工作距離：300mm
*掃描速率： 480000次/秒
掃描分辨率：0.05（毫米）
*測量精度：*高0.03 mm
*體積精度：0.020 + 0.100（毫米/米）
體積精度（結合DigiMetric）：0.020 + 0.025（毫米/米）
測量范圍（物件尺寸）：0.1 ～6米，可擴展
傳輸方式：USB3.0
工作溫度：-10 - 40℃
工作濕度：10 - 90 %
2.三維光學掃描系統配置與功能要求
(1) 數據采集傳感器：高速、高精密工業級相機2臺
* (2) 內置微慣性傳感器，實時輸出設備位姿；
* (3) 測量光源：14束交叉激光線，激光級別ClassII(人眼安全)，波長大于600納米
(4) 計算機系統：支持windows 7，32位和64位操作系統，支持內存16G以上
(5) 拼接方式：系統整合“專業模式”全自動標志點拼接模塊
(6) 全局誤差控制方式：GREC Pro全局誤差控制
* (7) 掃描方式：FLESA可變點距掃描
* (8) 使用方便：整個過程全部手持完成，無需三腳架等支撐裝置
(9) 所測量的物體表面可不做任何形式（如貼標識和噴白）的預先處理
(10) 防抖設計：采用先進的防抖動算法，防止掃描過程中人為的抖動對誤差的影響
3.三維光學掃描系統軟件功能要求
* 全中文軟件界面
* 自適應形面掃描模塊
(1) 自動調節系統參數，自適應各種材質/顏色表面的不同掃描對象，無需手動調節；
(2) FLESA可變點距掃描，在同一次掃描中，可對點距進行靈活設置和改變，同時滿足高速掃描以及精細掃描的需求
* 自動拼接模塊
(1) 智能標志點識別技術：系統自動跟蹤識別標志點；
(2) 慣性—光學混合式傳感器定位技術，實時將數據自動配準到同一坐標系；
(3) GREC Pro全局誤差控制模塊，可對拼接后的誤差進行全局控制；
* 全局框架掃描模塊
(1) 全局框架掃描技術，對框架點累積誤差進行全局控制；
(2) 兼容DigiMetric系統，搭載全局攝影測量技術可將掃描范圍擴展至幾十米；
* 后處理模塊
(1)掃描數據后，可進行點云噪聲處理及修剪
(2)內置友好的網格處理控制參數人機交互界面，可對去除釘狀物、精簡、平滑、特征銳化等網格處理參數進行設置
(3)自動生成三角面
(4)自動對三角網格數據進行補洞、去除釘狀物、精簡、平滑、特征銳化等處理
數據輸入輸出
(1)導出結果為ASC，STL，OBJ，OKO等格式數據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據 |
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