微焦點X射線透視檢查裝置 SMX-1000 Plus/1000L Plus
• 產(chǎn)品信息
將使用性和功能提升到*致的Ｘ射線檢查裝置
原來的SMX-1000/SMX-1000L是業(yè)界檢查機器的參照系，現(xiàn)在我們在此基礎上開發(fā)出了更加簡潔的X射線檢查裝置SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus。新機型將過去備受好評的操作性能進行了進一步提升，并使操作界面更加簡潔易懂，增大的透視圖像和外觀圖像提高了圖像的易讀性。
新系統(tǒng)大幅度地簡化了測量功能，通過無須復雜參數(shù)設定的一鍵式操作即可得到測量結(jié)果；除在外觀圖像上可實施導航、步進、教學（Teaching）、圖像一覽顯示等豐富的功能外，又增加了突出關(guān)心區(qū)域顯示等的新功能。
■ 用途
SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus可通過非破壞的方式，在高放大倍數(shù)下透視檢查高密度實裝基板或BGA•CSP•系統(tǒng)LSI的超細微部的連接狀態(tài)(斷線•接觸)。
■ 特點
● 進一步提高操作性
界面布局全面改良，更加簡潔、易懂，圖像加大，可比老機型更加直接地完成作業(yè)。 |
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