LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業生產的信號測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進)是由3GPP組織制定的UMTS技術標準的長期演進，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動。LTE系統引入了OFDM和多天線MIMO等關鍵傳輸技術，顯著增加了頻譜效率和數據傳輸速率（峰值速率能夠達到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網絡架構更加扁平化，減小了系統時延，降低了建網成本和維護成本。LTE系統支持與其他3GPP系統互操作。FDD-LTE已成為當前世界上采用的國家及地區***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標準。）。
我們公司的LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、測試卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡采用國際著名半導體廠商生產的專用芯片，3V/5V兼容5-6觸點兼容設計，適合一切手機.、配以專用COS系統，全面遵從4G手機、3G對手機、2G手機等，我司的測試卡的各項規范特殊的半導體硅襯，保證卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標準為4牛頓／每平方米）適合工業化生產線使用，采用超長壽命EEPROM，保證讀寫次數在10萬次以上。（3G標準只要求3萬次，按一般生產線測量要求，每部手機的讀寫次數為10次，可測一萬部手機。），專利芯片保護層，保證卡片安全，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時浸泡試驗）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時以上。75度溫度沖擊試驗.
我公司產品經國家集成電路卡注冊中心授權使用進口三星、日立、飛利浦等若干芯片[授權范圍：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx帶觸點IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化學性、觸點電特性均已通過國家電子計算機質量監督檢驗中心及信息產業部IC卡質量監督檢驗中心檢驗合格，具有*威性的品質保證。
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