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金屬鍍層厚度采取的測(cè)試方法有:1、光學(xué)顯微鏡法2、庫(kù)侖法3、X射線熒光法(XRF)其他的金屬鍍層測(cè)試有1、鍍鋅、鍍鋁鋅量測(cè)試2、鍍鋁量測(cè)試3、磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試4、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度(重量法)5、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜封孔質(zhì)量6、剪切試驗(yàn)7、杯突試驗(yàn)鍍層厚度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1、 光學(xué)顯微鏡法包括:1.GB/T 6462-20052.ASTM B487-073.ISO 1463-20034.EN ISO 1463-20045.JIS H8501-19992. 庫(kù)侖法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括:1.ASTM B504-072.GB/T 4955-20053.ISO 2177-20034.DIN EN ISO2177-20045.JIS H8501-19993. X射線熒光法(XRF)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T 16921-052.ISO 3497-20003.DIN EN ISO 3497-20014.ASTM B568:19985.ASTM A754-20066.JIS H8501-1999 |
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